TA610\620\630\631測量(微調)平臺簡介: TA610測量平臺,齒條升降,立柱可以隨意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。 TA620測量平臺,絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量平臺。 TA630微調平臺,X—Y平面轉角,俯仰角。 TA631微調平臺,X—Y平面轉角。 TA630、631都用來較小幅度的,粗確調整被測量工件的位置,提高測量精度。 相關儀器:溫度計 , 推拉力計 , 附著力測試儀 , 超聲波測厚儀 , 硬度計 , 電子天平 , 激光測距儀 |