超聲波探傷儀名詞解釋二
21. 檢測頻率：超聲檢測時所使用的超聲波頻率。通常為0.4 MHz ~15MHz。
22. 回波頻率：回波在時間軸上進行擴展觀察所得到的峰值間隔時間的倒數(shù)。
23. 靈敏度：在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的小超聲信號的一種量度。
24.靈敏度余量：超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準缺陷探測靈敏度與大探測靈敏度之間的差值。
25.分辨力：超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力。
26.抑制：在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號（電或材料的噪聲），以突出較大信號的一種控制方法。
27. 閘門：為監(jiān)控探傷信號或作進一步處理而選定一段時間范圍的電子學(xué)方法。
28. 衰減器：使信號電壓（聲壓）定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
29. 信噪比：超聲信號幅度與大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
30. 阻塞：接收器在接收到發(fā)射脈沖或強脈沖信號后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象。
31. 增益：超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對數(shù)形式。以分貝表示。
32.距離波幅曲線（DAC）：根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個參量繪制的一組曲線。實際探傷時，可由測得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。
33. 耦合：在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。
34. 試塊：用于鑒定超聲檢測系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。
35.標(biāo)準試塊：材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機關(guān)或機構(gòu)檢定的試塊。用于對超聲檢測裝置或系統(tǒng)的性能測試及靈敏度調(diào)整。
36.對比試塊：調(diào)整超聲檢測系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。
37.探頭：發(fā)射或接收（或既發(fā)射又接收）超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護膜或楔塊組成。
38. 直探頭：進行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。
39. 斜探頭：進行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。
